2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

[20a-W631-1~13] CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

2016年3月20日(日) 09:00 〜 12:30 W631 (西6号館)

田中 啓文(九工大)、松原 亮介(静岡大)

11:00 〜 11:15

[20a-W631-8] 時間分解静電気力顕微鏡による電極-有機半導体グレイン界面の局所電気特性評価

木村 知玄1、小林 圭1,2、山田 啓文1 (1.京大工、2.京大白眉セ)

キーワード:有機半導体グレイン、金属有機界面、静電気力顕微鏡

有機薄膜トランジスタ(OFET)の特性を左右する金属–有機界面物性には,個々の有機半導体グレインと電極の界面物性が大きく関わる.様々なグレインにおける金属–有機界面電気特性を評価するため,時間分解化した周波数変調静電気力顕微鏡と走査インピーダンス顕微鏡の同時測定(FM-EFM/SIM)を行い,注入時・蓄積時の局所電気特性の対応関係について議論する.