[20p-H111-1~9] 機能性酸化物探索の新展開　～more oxide, beyond oxide～

[20p-H111-9] 半導体の物性予測と物質探索 － 先端計算科学からのアプローチ

〇大場 史康^1,2 (1.東工大応セラ研・MCES、2.物材機構MI2I)

キーワード：第一原理計算、格子欠陥

物質・材料のスクリーニングを行う際，多くの材料機能が点欠陥，表面，界面といった格子欠陥に由来することを踏まえ，基礎物性のみならず，格子欠陥を精確に評価することが重要となる．本講演では，我々が開発を進めている半導体の基礎物性および格子欠陥特性の高精度予測のための計算手法を概説するとともに，新しい半導体の探索や特異な点欠陥複合体構造の予測への応用例を紹介する．