2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20p-H116-1~21] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月20日(日) 13:15 〜 18:45 H116 (本館)

安井 武史(徳島大)、崔 森悦(新潟大)

18:30 〜 18:45

[20p-H116-21] 薄明視野顕微鏡法を用いた金ナノ粒子の3次元マッピング

後藤 和史1、〇早崎 芳夫1 (1.宇大オプティクス)

キーワード:ディジタルホログラフィ、光ピンセット、プローブ顕微鏡

本発表では,薄明視野法を導入したディジタルホログラフィック顕微鏡によって,微細構造の形状を計測するために,微細構造上に散布された複数の金ナノ粒子の3次元位置を計測する.