2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 様々なスピン計測技術を用いたスピントロニクス材料開発の最前線

[20p-W241-1~6] 様々なスピン計測技術を用いたスピントロニクス材料開発の最前線

2016年3月20日(日) 13:45 〜 17:00 W241 (西2・3号館)

金井 駿(東北大)、中根 了昌(東大)

15:30 〜 16:00

[20p-W241-4] 放射光軟X線磁気円二色性によるスピントロニクス材料研究

中村 哲也1、鈴木 基寛1 (1.高輝度セ)

キーワード:スピントロニクス材料、XMCD

SPring-8におけるX線磁気円二色性(XMCD: X-ray Magnetic Circular Dichroism)測定技術について、最近の進展を紹介するとともに、スピントロニクス材料研究への応用例や今後の課題について述べる。