2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 様々なスピン計測技術を用いたスピントロニクス材料開発の最前線

[20p-W241-1~6] 様々なスピン計測技術を用いたスピントロニクス材料開発の最前線

2016年3月20日(日) 13:45 〜 17:00 W241 (西2・3号館)

金井 駿(東北大)、中根 了昌(東大)

16:30 〜 17:00

[20p-W241-6] メスバウアー分光法を用いたスピントロニクス材料の研究

壬生 攻1 (1.名工大工)

キーワード:スピントロニクス、メスバウアー分光、磁性薄膜

スピントロニクス関連の研究においては,素子を構成する物質中の局所的な磁気情報を実験的に調べたいというニーズがしばしば生じてくる。このようなニーズに応えることができる実験方法のひとつが,原子核によるガンマ線(X線)の吸収スペクトルから電子状態を調べることができる“メスバウアー分光法”である。本講演では,スピントロニクス関連物質に対するメスバウアー分光測定の例を紹介し,この実験方法の有効性を概説する。