[21p-H113-1~18] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [21p-H113-2] Cu表面上におけるNOの価電子状態と非弾性トンネル分光測定

〇塩足 亮隼^1,2、奥山 弘¹、八田 振一郎¹、有賀 哲也¹ (1.京大院理、2.東大新領域)

キーワード：走査トンネル顕微鏡、非弾性トンネル分光、走査トンネル分光

非弾性トンネル分光法 (IETS) は、走査トンネル顕微鏡 (STM) を用いて表面に吸着した個々の分子の化学同定を行うための強力な手法であるが、その選択則は未だ確立されていない。近年の理論研究によってその「傾向則」が提唱されているが、実験的な知見は不足していた。
本研究では、Cu(110)およびCu(001)表面上の NO 分子のSTM-IETS測定を6 Kにて行った。走査トンネル分光(STS)測定によってNO単分子の価電子状態を明らかにすることで、「傾向則」を用いて検出されたIETSピークの帰属を試みた。