[22a-W631-1~12] 12.2 評価・基礎物性

△ [22a-W631-3] 微小角入射広角X線散乱による液晶性フタロシアニン配向薄膜の結晶構造解析

〇大森 雅志¹、宇野 貴志¹、中野 知佳¹、藤井 彰彦¹、尾崎 雅則¹ (1.阪大院工)

キーワード：液晶性有機半導体、微小角入射広角X線散乱法、ディスコティック液晶

ディスコティック液晶性を示すフタロシアニン誘導体C6PcH₂は高い電荷移動度を示し、電子デバイス材料として期待されている。優れた電気的特性は分子スタック構造に由来すると考えられ、薄膜中の分子配向制御によりデバイス性能の向上に繋がると考えられる。本研究では、配向膜の作製手法として検討中のバーコート法により作製した薄膜の配向状態および分子パッキング構造を微小角入射広角X線散乱法により解析した。