2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[22p-W631-1~6] 12.2 評価・基礎物性

2016年3月22日(火) 13:15 〜 14:45 W631 (西6号館)

山田 洋一(筑波大)

14:15 〜 14:30

[22p-W631-5] Ag(111)上SnCl2Pc薄膜の表面化学:X線定在波法による吸着構造の解析

上羽 貴大1,2、田子 達寛3、Gerben Straaten4、Markus Franke4、Marco Gruenewald5、Tien-Lin Lee6、Pardeep Kumar Thakur6、Christian Zwick5、Roman Forker5、Torsten Fritz5、Christian Kumpf4、解良 聡1,2,3 (1.分子科学研究所、2.総合研究大学院大学、3.千葉大院融合、4.ユーリッヒ研究センター、5.イエナ大学、6.ダイアモンド放射光施設)

キーワード:X線定在波法、有機薄膜、フタロシアニン

ジクロロ錫フタロシアニン(SnCl2Pc)のAg(111)基板上における吸着構造を,X線定在波法によって調べた.解析から,SnCl2Pcの一方のCl原子が脱離し,SnClPcとして吸着していることが予想された.分子のCl原子は,Ag(111)第1層よりも~0.2 Å深くに位置する可能性が高い.このCl原子がAgClを形成している可能性は考えにくい.STM, LEEDによる2次元格子に関する情報と合わせて,SnCl2Pc分子の吸着構造を議論する.