18:15 〜 18:30 [6p-A203-19] 熱刺激電流計測法を用いたTADF素子のキャリアトラップおよび劣化解析 〇八尋 正幸1、筒井 裕子1、藤原 隆1、筒井 哲夫2、安達 千波矢3 (1.九州先端研、2.CEREBA、3.九大OPERA)