[6a-S41-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[6a-S41-8] 時間分解磁気円二色性測定でみたCo/Pt多層膜の光誘起磁化変化のレーザー偏光依存性

〇和達 大樹^1,2、山本 航平^1,2、田久保 耕¹、平田 靖透^1,2、横山 優一^1,2、山本 達^1,2、松田 巌^1,2、辛 埴¹、関 剛斎³、高梨 弘毅³ (1.東大物性研、2.東大理、3.東北大金研)

キーワード：X線、レーザー、時間分解

私たちはSPring-8 BL07LSUに建設した軟X線時間分解分光・回折測定装置を用い、pump-probe法による時間分解X線磁気円二色性(XMCD)測定を垂直磁化する[Co/Pt]2/Sapphire多層膜に対して行った。円偏光のpumpレーザー光(1.5 eV, 16 mJ/cm2) をCo/Pt多層膜に入射し、そのあとCo L端の円偏光のprobe X線をあて、光電子を検出することで磁気円二色性を測定した。