2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[6p-C21-1~20] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年9月6日(水) 13:45 〜 19:00 C21 (C21)

角嶋 邦之(東工大)、曽根 正人(東工大)

14:00 〜 14:15

[6p-C21-2] SiH2Cl2-SiHx-H2系によるシリコン薄膜成長速度増大方法

山田 彩未1、羽深 等1 (1.横国大院工)

キーワード:エピタキシャル成長、ジクロロシラン、成長機構

シリコン(Si)エピタキシャル薄膜の需要が増え、その生産量を増やすために、成膜速度を上げることが望まれている。その際には、原料であるジクロロシラン(SiH2Cl2, DCS)濃度を増大させると、ラングミュア型表面反応機構が原因となって成膜速度が飽和するという課題がある。その解決のため本研究では、主原料であるDCSガスにSiHxガスを混合させることにより成膜速度が増大することを検討する。