14:15 〜 14:30 [16p-512-3] フレキシブル基板上に形成した薄膜のX線反射率測定のための簡便かつ再現性の高い試料固定法 徳永 幸大2、上林 浩行2、田尻 恭之1、佐藤 誠2、〇香野 淳1 (1.福岡大理、2.東レ(株) フィルム研)