2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

出展者情報

[Jsp-2] フィルメトリクス(株)

■非接触光学式段差・粗さ・表面形状測定システム Profilm3D ■非接触光学式膜厚・光学定数測定システム F20
  • 住所

    222-0033
    神奈川県横浜市港北区新横浜2-5-9 新横浜フジカビル

  • Tel

    045-473-7109

  • Fax

    045-473-7209

  • Webサイト・SNS

    http://www.filmetrics.co.jp