2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[14p-412-1~18] 6.2 カーボン系薄膜

2017年3月14日(火) 13:15 〜 18:15 412 (412)

川原田 洋(早大)、梅沢 仁(産総研)、鈴木 真理子(東芝)

13:30 〜 13:45

[14p-412-2] In-Situ Temperature Measurement of Diamond Devices using NV Centers

Amici Renato Goes1、Iwasaki Takayuki1,2、Makino Toshiharu2,3、Kato Hiromitsu2,3、Ogura Masahiko2,3、Takeuchi Daisuke2,3、Yamasaki Satoshi2,3、Hatano Mutsuko1,2 (1.Tokyo Institute of Technolgy、2.CREST、3.AIST)

キーワード:Temperature Measurement, Diamond Device, NV Center