2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

[14p-423-1~14] CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

2017年3月14日(火) 13:15 〜 17:00 423 (423)

堀田 尚二(日立)、山本 洋揮(阪大)

16:00 〜 16:15

[14p-423-11] 複雑化・深化するOPC(近接効果補正): GPUによる高速化処理とOPC配置数の削減

門田 和也1、加藤 心2 (1.ナノサイエンスラボ、2.日本シノプシス)

キーワード:OPC(近接効果補正)、マスクデータ処理、計算機リソグラフィー

半導体の極微細化ニーズに対応して、サブ20nm時代のリソグラフィー・マスク技術は、液浸露光、インバースリソグラフィー、マルチビームマスク描画等の高度な露光技術に於いて、ますます複雑化・深化したOPC(近接効果補正)手法の適用、最適化が不可欠となって来た。 この為に、チップレイアウト設計データは、複雑化したOPCを含めると、爆発的に巨大なデータとなり、マスク描画、及び検査時の処理負担削減が喫緊の大きな課題となっていた。
本研究は、このマスクデータ処理をグラフィックプロセッサ(GPGPU)を用いて超高速化し、従来のCPU処理手法を置き換える為の基礎研究を行った。 また、同時にOPCの配置数を極力削減し、且つ極細線化デバイスを形成出来る4分割露光方式(QPT)を研究し、そのデバイス性能が、充分に0.4Vの低電圧駆動能力を維持出来ることを、計算機シミュレーションで確認した。