2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

[14p-424-1~16] CS.4 7. コードシェアセッション:ビーム応用大分類

2017年3月14日(火) 13:15 〜 17:30 424 (424)

川崎 忠寛(JFCC)、三浦 克介(阪大)、村上 勝久(産総研)

14:45 〜 15:00

[14p-424-7] 超小型電子ビーム直接描画機: 電子光学系及びナノレベル多軸ステージ

門田 和也1、小坂 光二2 (1.ナノサイエンスラボ、2.株式会社 TCK)

キーワード:超小型電子ビーム直接描画機、電子光学系、ナノレベル多軸ステージ

多様化し、深化発展する半導体、MEMS、医療、バイオ等の研究開発、少量多品種生産分野に応える為には、大口径メガファブとは別の戦略が必要である。これ等の市場ニーズは、100nmノードクラスの微細化・細線化の実現であり、新規の回路設計、デバイス、統合プロセス、要素・材料プロセス、信頼性、品質等に関する原理検証、及びフレキシブル少量多品種開発・生産による市場への供給である。このニーズを果たす為には、メガファブとは異なる小型基板を用い、超小型で廉価、且つメンテナンス負荷の軽い、ロバスト性の高いシステムが不可欠である。この観点から、本研究では、電子ビーム露光(以下、EBDWと略す)に特化した超小型基板用の露光装置を提案する。