[16a-424-1~7] CS.4 7. コードシェアセッション：ビーム応用大分類

△ [16a-424-4] フェロセンで覆われたイオン流路にC₆₀イオンを入射した際の出射粒子の質量分析

〇立川 知樹¹、内田 貴司¹、本橋 健次² (1.東洋大学大学院学際、2.東洋大理工)

キーワード：フラーレン、原子内包

本研究はフェロセンで覆われたイオン流路にC₆₀イオンビームを入射した際の多重散乱過程を利用して，鉄原子内包フラーレンの効率的生成および単離法の開発を試みるのが目的である。イオン流路を傾けることにより、出射イオンの質量分布のピークがC₆₀フラーレン相当の720uから760uにシフトした。さらに，ICP-MSによる分析の結果，出射粒子を堆積した基板と，非堆積の基板の間で鉄原子の量に有意な差を確認した。