[16p-512-1~10] Imaging of interfaces in thin films and multilayers

[16p-512-1] Ultrahigh Resolution Laser-excited Photoemission Electron Microscopy for Imaging of Interfacial Nanostructures

〇(PC)Toshiyuki Taniuchi¹, Yoshihito Motoyui¹, Shik Shin¹ (1.ISSP, Univ. of Tokyo)

Keywords:Photoemission Electron Microscopy, Buried interface, Magnetism

光電子顕微鏡(PEEM)は紫外線を入射光として利用し、放出された光電子の実空間イメージングを行うことで、試料の仕事関数の大きさに敏感なイメージングが可能な手法であり、主に表面の化学状態や磁気状態の観察に用いられてきた。本研究では埋もれたナノ構造の観察を実現するため、連続波深紫外レーザーと収差補正機構を有した超高空間分解能PEEMを組み合わせることで埋もれた界面のナノ観察に成功したので報告する。