[16p-P4-1~8] 6.6 プローブ顕微鏡

[16p-P4-3] AFMによるマイカ表面上金ナノアイランドの移動制御 2

〇島 貴明¹、長谷川 剛¹ (1.早大先進理工)

キーワード：原子間力顕微鏡、マイカ

本研究では、AFMによって移動させた金ナノアイランドをワイヤ状に集めることで、絶縁性基板であるマイカ表面上に導電経路を作製した。移動操作は、AFMのカンチレバーによって行った。 この金ナノアイランドが白金の配線構造を経由して外部測定器との電気的に接続されていることを確認した。この方法を用いれば、試料表面上の任意の位置に形成されたナノ構造の電気特性評価が可能になるものと期待される。