2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[16p-P5-1~17] 12.2 評価・基礎物性

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2017年3月16日(木) 13:30 〜 15:30 P5 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[16p-P5-17] 表面増強赤外分光法による島状金薄膜上SAM膜の評価

関 洋文1、安宅 憲一2、井上 敬子1、Joachim Heberle2 (1.東レリサーチセンター、2.ベルリン自由大学)

キーワード:赤外分光、単分子膜、増強

表面増強赤外吸収は、ナノメートルオーダーの構造を持つ金属薄膜(金、銀、銅など)に吸着した分子の赤外吸収強度が増強される現象である。近年はリソグラフィーなどの進歩によって、膜構造の制御が比較的容易となっており、バイオセンサーなどへの応用が期待される。本報告では、古くから行われている無電解メッキで金島状膜を作成し、この表面に吸着したSAM膜の赤外吸収強度から、本手法を用いた測定の再現性及び金属がない場合と比較して赤外吸収がどの程度増大するかについて調査した。