14:15 〜 14:30 [18p-212B-4] X線CTR散乱迅速測定によるBi超薄膜成長過程の原子レベル追跡 〇白澤 徹郎1、Voegeli Wolfgang2、溜池 裕太2、荒川 悦雄2、高橋 敏男2 (1.産総研、2.東京学芸大)