[18p-133-1~10] 化合物カルコゲナイド太陽電池の最新技術 - CIGS系・CZTS系・CTS系太陽電池の高効率化とその課題 -

[18p-133-6] 陽電子消滅によるCIGS薄膜中の空孔型欠陥の検出

〇上殿 明良¹、Islam M. M.¹、櫻井 岳暁¹、秋本 克洋¹ (1.筑波大数物)

キーワード：CIGS、空孔型欠陥、陽電子

陽電子消滅を用いて，3ステージ法で作られたCIGS膜中の空孔型欠陥を評価した．消滅γ線ドップラー拡がり測定および陽電子寿命測定から，CIGS中には単一ないしは複空孔程度の空孔と空孔クラスターが共存していることがわかった．空孔型欠陥濃度は太陽電池効率と相関しており，また，空孔濃度とその深さ分布はSe BEP，成長時間，成膜後の焼鈍により変化することを確認した．