2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[18p-143-1~15] 6.6 プローブ顕微鏡

2018年9月18日(火) 13:45 〜 17:45 143 (143)

一井 崇(京大)、杉本 宜昭(東大)

17:00 〜 17:15

[18p-143-13] ケルビンプローブ力顕微鏡によるTiO2(110)表面のステップにおける表面電位の測定

宮崎 雅大1、温 煥飛1、张 全震1、安達 有輝1、内藤 賀公1、李 艶君1、菅原 康弘1 (1.阪大院工)

キーワード:ケルビンプローブ力顕微鏡、光触媒

酸化チタン(TiO2)は優れた光触媒材料として知られており、触媒反応に関して多くの研究が行われている。ステップ構造は触媒反応の活性点の一つであると考えられるが、ステップ周辺の電荷分布は明らかにされていない。本研究では、ケルビンプローブ力顕微鏡を用いてステップ周辺の表面電位の測定を行った。そしてステップ構造と触媒反応の関係について考察を行う。