[18p-231A-1~14] 1.5 計測技術・計測標準

[18p-231A-1] [講演奨励賞受賞記念講演] 超低位相雑音マイクロ波発生と、光サンプリング法による高感度位相雑音測定法

〇遠藤 護¹、Tyko Shoji D.¹、Schibli Thomas R.^1,2,3 (1.コロラド大、2.NIST、3.JILA)

キーワード：マイクロ波、光サンプリング、位相雑音

計量標準やその他の様々な分野で利用される低雑音マイクロ波は、その発生が困難であるだけでなく、位相雑音の測定も課題である。本発表では、私達の考案した光サンプリング法による超高感度位相雑音測定法を紹介する。この手法の感度は-186 dBc/Hzであり、最先端のマイクロ波の位相雑音よりも10 dB程度低い値を持つ。また本発表では、最先端の低雑音マイクロ波発生・応用について、簡単なレビューも行う。