[18p-PA5-1~28] 12.4 有機EL・トランジスタ

[18p-PA5-12] タイムドメインリフレクトメトリによるペンタセンTFT構造のキャリアダイナミクスの解析

〇本田 琢人¹、村上 裕章¹、酒井 正俊¹、岡田 悠悟²、山内 博¹、貞光 雄一³、橋本 雄太³、小野寺 希望³、工藤 一浩¹ (1.千葉大融合理工、2.千葉大先進科学センター、3.日本化薬)

キーワード：ペンタセン、有機薄膜トランジスタ、キャリア注入

我々は有機半導体トランジスタのキャリア注入過程を測定する方法として、タイムドメインリフレクトメトリを提案している。この手法は試料へ矩形波を送出し、その反射波の波形から試料の瞬時的なインピーダンスを測定する手法である。本研究では、これまでの報告とは異なる電圧を印加した場合のペンタセンTFT構造におけるキャリア注入に伴うインピーダンス変化を解析し、キャリアの膜厚方向及び面内方向の注入ダイナミクスについて議論する。