2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

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13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[20a-PA4-1~12] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2018年9月20日(木) 09:30 〜 11:30 PA (イベントホール)

09:30 〜 11:30

[20a-PA4-11] 高純度FeおよびSi単体ターゲットを用いた同時スパッタリング法によるbeta-FeSi2膜の作製

吉武 剛1、内田 聖也1、田中 佑樹1、野上 智宏1、吉田 智博2 (1.九州大学総理工、2.福岡県工技セ)

キーワード:シリサイド半導体、鉄シリサイド、スパッタリング

高純度単体ターゲットを用いた同時スパッタリング堆積を行い、Si (111)基板上にbeta-FeSi2膜をエピタキシャル成長させた。電気伝導率は組成比の変化に対して敏感に変化し,高純度化の効果を明確に確認できなかった.より厳密な組成比の最適化が必要である.