[20p-231A-1~10] 1.4 エネルギー変換・貯蔵・資源・環境

[20p-231A-4] X線小角散乱によるグラファイトの吸着構造解析

〇工藤 悠人¹、小松 啓志¹、津田 欣範^1,2、Siriwat Soontaranon³、齋藤 秀俊¹ (1.長岡技科大、2.ヒューズ・テクノネット、3.タイ国立放射光研究所)

キーワード：X線小角散乱、Porod解析、グラファイト

構造が既知であるグラファイトに対し、様々な分子の吸着を試みたサンプルについて、X線小角散乱を測定した。細孔径、細孔の形状、気孔率など細孔に関する詳細な情報が得られるPorod解析により、グラフェンを基本とする炭素材料の正確な構造解析が可能かどうかを調査した。