[21a-231C-1~11] 12.2 評価・基礎物性

[21a-231C-1] C₆₀単分子接合における架橋構造変化の観測

〇金子 哲¹、塚越 一仁²、木口 学¹ (1.東工大理、2.物材研)

キーワード：単分子接合、表面増強ラマン散乱、フラーレン

本研究では微細加工法を用いて作製したナノ電極を用い、C₆₀分子単分子接合状態を保持した状態におけるC₆₀分子の挙動の観測を目的とした。単分子接合はMechanically controllable break junction (MCBJ)法を活用して作製し、電流-電圧(I-V)特性と表面増強ラマン散乱(SERS)の計測を行った。結果、SERSとI-V特性の同時計測により、C₆₀分子接合おける金属-分子相互作用が異なる二つの電気伝導度状態を観測し、室温で二つの電気伝導度状態の遷移の観測に成功した。