[21p-222-1~8] 7.5 イオンビーム一般

[21p-222-5] ミスト法を用いたセシウム付加によるPEG表面の次イオン検出感度の向上

〇松田 大輝¹、松尾 二郎¹、瀬木 利夫¹、青木 学聡² (1.京大院工、2.京大メディアセンター)

キーワード：SIMS、セシウム