2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

8 プラズマエレクトロニクス » 8.1 プラズマ生成・診断

[17p-C204-1~20] 8.1 プラズマ生成・診断

2018年3月17日(土) 13:15 〜 18:30 C204 (52-204)

富田 健太郎(九大)

16:45 〜 17:00

[17p-C204-14] ECRイオン源におけるフラーレンイオンビームの高純度化

大西 広司1、津田 悠登1、渡辺 拓人1、竹田 樹人1、濱田 滉太1、内田 貴司2、村松 正幸3、北川 敦志3、吉田 善一2、加藤 裕史1 (1.阪大院工、2.東洋大、3.量研機構放医研)

キーワード:プラズマ、フラーレン、イオンビーム