[18p-C201-1~7] イオンビームと表面分析：二次イオン質量分析法（SIMS）の最近の進歩と有機分析への応用

[18p-C201-6] クラスターイオンビームを用いたTOF-SIMSによる生体組織・生体分子評価とデータ解析

〇青柳 里果¹ (1.成蹊大理工)

キーワード：二次イオン質量分析、クラスターイオン、生体組織