[18p-P6-1~18] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[18p-P6-14] 原子層薄膜CaF₂/Siヘテロ界面の価電子帯バンド不連続評価

〇福山 聡史¹、渡辺 正裕¹ (1.東工大工学院)

キーワード：半導体