2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[19p-C204-1~17] 8.2 プラズマ成膜・エッチング・表面処理

2018年3月19日(月) 13:45 〜 18:15 C204 (52-204)

林 久貴(東芝)、木原 嘉英(東京エレクトロン宮城)

14:45 〜 15:00

[19p-C204-5] 窒化ガリウムの原子層エッチングに向けたラジカル吸着機構の解明

長谷川 将希1、堤 隆嘉1、谷出 敦1,2、近藤 博基1、石川 健治1、堀 勝1 (1.名大、2.(株)SCREEN ホールディングス)

キーワード:窒化ガリウム、原子層エッチング

窒化ガリウム(GaN)の原子層エッチング実現に向け、本研究では、Cl吸着過程に着目し、プラズマビーム装置を用いてClラジカル照射したGaN表面へのCl吸着挙動を調査した。サファイア上に水素化物気相成長したGaNの自然酸化膜を除去した後、ClラジカルとArイオンの照射を1サイクルとして、合計3サイクル行った基板表面ではGaNの結晶組成N/Ga~1に窒素の割合が回復した。表面状態に依存したClラジカル吸着挙動について考察する。