[19p-D102-1~6] 先端計測と機械学習の融合

[19p-D102-1] 計測指向機械学習の探求

〇鷲尾 隆¹、谷口 正輝¹、大城 敬人¹、吉田 剛¹、吉川 元起²、今村 岳² (1.大阪大学産業科学研究所、2.物質材料研究機構国際ナノアーキテクトニクス研究拠点)

キーワード：機械学習、計測、センサー

従来の計測でも計測過程の数理的補完処理は行われて来たが、あくまでもハードウエアデバイスが計測過程の主体であった。一方で、機械学習をはじめ情報科学が急速な発展を遂げ、情報処理を中心とした高度な計測を実現しうる可能性が増大している。ここでは一般の機械学習とは異なり、計測対象とする状態のみを系の変化や外乱の影響を排除して高精度に推定する新しい計測指向の機械学習の可能性を示す。