[20a-B403-1~10] 7.5 イオンビーム一般

[20a-B403-10] 固液界面分析に向けたAmbient SIMS法の開発

〇(M2)石井 健太¹、瀬木 利夫¹、青木 学聡²、松尾 二郎¹ (1.京大院工、2.京大メディアセンター)

キーワード：二次イオン質量分析