2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

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[20a-P9-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

2018年3月20日(火) 09:30 〜 11:30 P9 (ベルサール高田馬場)

09:30 〜 11:30

[20a-P9-9] P型単結晶Si太陽電池の電圧誘起劣化において漏れ抵抗低下がエレクトロルミネッセンス発光強度に与える影響

小林 大祐1、大島 拓也1、石河 泰明1、浦岡 行治1 (1.奈良先端大)

キーワード:P型単結晶Si太陽電池、電圧誘起劣化(PID)、エレクトロルミネッセンス

本研究では,p型単結晶Si太陽電池モジュールに対して抵抗を直列及び並列に接続することで,PID現象を起こす過程で上昇していくシリーズ抵抗(Rs)と減少していくシャント抵抗(Rsh)を疑似的に再現し,EL発光強度への影響を検討した.