[20p-A304-1~12] 2.2 検出器開発

[20p-A304-11] 超高分解能マルチプローブ CdTe SPECT装置の開発(2): CdTe両面ストリップ検出器の性能評価

〇都丸 亮太^1,2、武田 伸一郎³、織田 忠³、森山 文基³、菅原 寛貴³、桂川 美穂^1,2、藪 悟郎^1,2、渡辺 伸^1,2、高橋 忠幸^1,2、蔵地 理代⁴、水間 広⁴、金山 洋介⁴ (1.宇宙科学研究所、2.東京大学、3.沖縄科学技術大学院大学、4.理化学研究所)

キーワード：半導体、テルル化カドミウム、SPECT