2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.2 電子ビーム応用

[20p-B303-1~8] 7.2 電子ビーム応用

2018年3月20日(火) 14:00 〜 16:15 B303 (53-303)

川崎 忠寛(JFCC)、橘田 晃宜(産総研)

14:15 〜 14:30

[20p-B303-2] 低加速電子線偏向を用いた局在電界の可視化

〇(M1)鄭 サムエル1、菊池 優1、伊藤 良一1、藤田 淳一1 (1.筑波大数理)

キーワード:局在電界、可視化、低加速電子線偏向

当研究室では低加速電子線偏向を用いた電界可視化技術を行っている。これまでにも、SEMをベースとした局在電界可視化技術を報告してきた。しかし、これらは我々が目標とする触媒中に局在する電荷を可視化するには空間分解能と電界強度の検出感度が不十分であった。本研究では高感度検出器の導入により、従来より低加速な1 ~5 keV電子線を用いて20 nmの高分解能での高感度局在電界可視化に成功したことを報告する。