The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

1 Interdisciplinary Physics and Related Areas of Science and Technology » 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

[20p-F202-1~9] 1.5 Instrumentation, measurement and Metrology

Tue. Mar 20, 2018 1:45 PM - 4:00 PM F202 (61-202)

Hidehiko Nonaka(AIST)

2:00 PM - 2:15 PM

[20p-F202-2] High-Sensitivity Microwave Phase Noise Characterization with Dual-Output Mach-Zehnder Modulators and a femtosecond pulse train

〇(P)Mamoru Endo1, Tyko Shoji1, Thomas Schibli1,2,3,4 (1.Dept. of Phys., Univ. of Colorado, 2.NIST, 3.JILA, 4.Univ. of Colorado)

Keywords:phase noise, femtosecond laser, ultra-low phase noise

マイクロ波の位相雑音を-186 dBc/Hzという感度で測定する手法を開発した。参照となるフェムト秒パルス列と、測定対象のマイクロ波を、デュアルアウトプット・マッハツェンダ光変調器で位相比較する。測定器自体の雑音は、クロススペクトラム法により効率的に取り除かれる。