17:30 〜 17:45 △ [20p-C207-16] 粒子検出器応用に向けたNdFeAs(O,F)薄膜の細線加工及び物性評価 〇辻 泰成1、近藤 圭祐1、畑野 敬史1、飯田 和昌1、全 伸幸2、馬渡 康徳2、生田 博志1 (1.名大工、2.産総研)