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[18p-E312-1] 加速器質量分析と先進同位体分離技術
キーワード：加速器質量分析、同重体干渉、近接質量干渉
質量分析をフェムトレベル（同位体比が10-15となるレベル）まで高感度化する場合，「同重体干渉」と「近接質量干渉」の2つの妨害要因が存在する．加速器質量分析（AMS = Accelerator Mass Spectrometry）では，負イオン源＋タンデム加速器の組み合わせによってこれらを克服している．本講演では，従来の加速器質量分析技術を再考し，将来の技術的展望を行う．また，レーザーや正イオン源など，従来の加速器質量分析のアプローチとは異なる方法論による分析法と合わせ，新世代の高感度質量分析技術の世界を概観する．