13:30 〜 13:45
[21p-B12-1] キャリヤ寿命評価に基づくc-Si太陽電池モジュールのPID計算機モデル
キーワード:シリコン太陽電池モジュール、電圧誘起劣化
PIDのメカニズムに関しては,p型結晶シリコン太陽電池モジュールの窒化シリコン薄膜中の電界によるNaイオンのドリフトが一因と考えられる報告がある.そこで,Naイオンのドリフトと熱拡散によるPIDを仮説し,実サンプルのキャリヤ寿命評価に基づく計算機モデルによる解析を進めている.
一般セッション(口頭講演)
16 非晶質・微結晶 » 16.3 シリコン系太陽電池
2019年9月21日(土) 13:30 〜 14:45 B12 (B12)
城内 紗千子(産総研)
13:30 〜 13:45
キーワード:シリコン太陽電池モジュール、電圧誘起劣化