15:15 〜 15:30 [9p-W834-8] スペックルナイフエッジ光検出器を用いたレーザ超音波技術による内部欠陥検出 〇李 英根1、北澤 聡1、リケッシュ パテル2、ロジャー ライト2 (1.日立研開、2.ノッティンガム大)