09:30 〜 09:45 △ [11a-W833-3] 大気中分子-ZnOナノワイヤ/Pt界面間相互作用の解明に基づくデバイス特性の高信頼化 〇中村 健太郎1、高橋 綱己2、金井 真樹2、Zhang Guozhu2、細見 拓郎2、長島 一樹1,2、柳田 剛1,2 (1.九大総理工、2.九大先導研)