[9a-M112-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

[9a-M112-7] TEM-周波数変調法を用いたAuナノワイヤのヤング率方位依存性の測定

〇小堀 雄稀¹、石塚 慧介¹、見寺 悠伽²、冨取 正彦¹、新井 豊子²、大島 義文¹ (1.北陸先端大先端、2.金大院自然)

キーワード：ヤング率、ナノワイヤ、結晶方位

ナノ材料の機械的性質は異方性を示すことが理論的に示唆されている。しかし、実験的な報告例は少ない。本研究では材料周波数変調原子間力顕微鏡（FM-AFM）の測定原理を応用し、小さな振幅でも高い感度で力の勾配（すなわち等価バネ定数）を得られる長辺水晶振動子を組み込んだTEMホルダーを用いて、振動子と固定電極に間に架橋されたAuナノワイヤの構造を観察するとともに等価ばね定数を測定し、各結晶方位のヤング率を求めた。