[9p-W321-1~14] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[9p-W321-12] 放射光Ｘ線回折パターンの特徴抽出と空間マッピング

〇沓掛 健太朗¹、神岡 武文²、井上 憲一³、深見 昌吾⁴、宇佐美 徳隆⁴、中原 正博⁵、ダムリン マルワン⁵、佐々木 拓生⁶、藤川 誠司⁶、高橋 正光⁶ (1.理研AIP、2.明治大、3.名大未来機構、4.名大院工、5.東洋アルミ、6.量研)

キーワード：機械学習、X線回折、マッピング

近年、実験・計測機器の性能向上に伴い、得られる計測データの量は飛躍的に増加しており、特に、大強度ビームによる高速・短時間測定が可能な放射光実験では顕著である。そこで、得られた大量データを有効活用し、測定対象に関する情報を余すことなく抽出することが求められている。本研究では、X線回折パターンの試料表面でのマッピングを対象とし、機械学習によって多数の複雑なパターンから特徴を抽出し、マッピングに応用することを検討した。