[9p-W833-1~9] 陽電子回折による表面科学の新展開と高速化データ駆動科学

[9p-W833-3] 全反射高速陽電子回折（TRHEPD）方位角プロット法によるチタニア表面構造解析

〇望月 出海¹、深谷 有喜²、一宮 彪彦¹、兵頭 俊夫¹ (1.KEK物構研、2.原子力機構先端基礎)

キーワード：陽電子、回折、全反射高速陽電子回折

全反射高速陽電子回折(TRHEPD)法では、入射ビーム視射角(θ)が臨界角(θc)より小さいと、陽電子は全反射して、最表面原子のみからの回折パターンが得られる。そこで、θをθc以下に保ち、ビーム方位角(φ)を変化させつつ00反射強度(方位角プロット)を測定すれば、最表面のみの構造情報しか持たないデータが得られる。また、θをθcを超えて徐々に大きく調節すれば、所望の深さまでの情報を含むデータが得られる。これを利用して、表面構造を上から順々に確定できる。ここでは構造が規定されているルチル型チタニア(110)(1x1)表面を用いて、この新しい構造解析法の妥当性を検証した。