11:45 〜 12:00
[10a-Z24-12] Si強誘電体FETにおける強誘電分極に誘起される反転層電荷の振る舞い
キーワード:強誘電体FET, 動作機構, メモリ窓
本研究ではHf0.5Zr0.5O2/Si FeFETにおける電子と正孔の反転層電荷の振る舞いを調べた。分極によってp-FeFETの反転層正孔は効率よく形成される一方、n-FeFETの電子はほとんどトラップされる。このような分極と反転層の相互作用はデバイス特性に大きく影響を与えることがわかった。
一般セッション(口頭講演)
CS コードシェアセッション » 【CS.5】 6.1 強誘電体薄膜、13.3 絶縁膜技術、13.5 デバイス/配線/集積化技術のコードシェアセッション
11:45 〜 12:00
キーワード:強誘電体FET, 動作機構, メモリ窓