2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[10p-Z25-1~17] 12.2 評価・基礎物性

2020年9月10日(木) 13:15 〜 18:00 Z25

中山 泰生(東理大)、松井 弘之(山形大)、中山 健一(阪大)

15:00 〜 15:15

[10p-Z25-7] 液中ケルビンプローブ測定から求めた誘電率の解釈

石井 久夫1,2,3、新藤 駿太1、内山 裕章1、田中 有弥1,3 (1.千葉大院融合理工、2.千葉大MCRC、3.千葉大先進)

キーワード:仕事関数, 誘電率, 液体

<!--?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?-->ケルビン法による仕事関数測定を液体中で行うと,ケルビン法から求まる誘電率と電気容量測定から求まる誘電率がしばしば異なることを我々は以前の講演会で報告した。今回は,その解釈をすすめ,電極間の液体層のバルク領域にかかる電界強度をケルビン法でモニターできることを論ずる。