2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[12p-B408-1~10] 1.5 計測技術・計測標準

2020年3月12日(木) 13:30 〜 16:00 B408 (2-408)

寺崎 正(産総研)

14:45 〜 15:00

[12p-B408-6] 透過電子顕微鏡法による硬質材料のその場引張破断過程の観察

中山 陽次郎1、山本 裕史1、畠山 達彦2 (1.住友電工、2.北野精機)

キーワード:その場TEM、硬質材料、タングステンカーバイド

WC-Coをはじめとした硬質材料の高強度化にはその破壊メカニズムの解明が必要である。破壊メカニズムの解明にはナノメートルレベルの微細構造を観察する透過電子顕微鏡(TEM)法が有効であるが、TEMの試料と試料スペースのサイズの制約から、これまで硬質材料の破断過程をTEMで観察した報告は少ない。そこで、TEM装置内で硬質材料を加熱しながら引張観察できる新規TEMホルダーを開発し、破断過程の微細構造の変化を観察することを目指した。